测量原理及特点:
点自动对焦分析原理
1. 大的测量范围/ 高精度测量.
2. 优异的角度跟踪能力.
3. 快速3D测量
4. 符合粗糙度测量标准.
5. 自动对焦扫描实现快速表面形貌的测量.
6. 对测量工件表面颜色及反射率无要求.
7. 丰富的测量功能.
部分测量范例:
基本规格参数:
a 自动对焦传感器
1. 激光点尺寸: D = 1 μm (at 100X ) 半导体激光o/p=1 mW , Max A:635m (Class 2)
2. AF 重复性: σ = 0.03 μm
b 测量对象
1 2D/3D表面形貌
2. 平整度
3. 3D/轮廓
4. 翘曲度
c 扫描范围
更多型号及各类不同特殊应用请随时咨询我司人员进行交流咨询,以便提供给您更加精准的型号配置推荐。
测量原理及特点:
点自动对焦分析原理
1. 大的测量范围/ 高精度测量.
2. 优异的角度跟踪能力.
3. 快速3D测量
4. 符合粗糙度测量标准.
5. 自动对焦扫描实现快速表面形貌的测量.
6. 对测量工件表面颜色及反射率无要求.
7. 丰富的测量功能.
部分测量范例:
基本规格参数:
a 自动对焦传感器
1. 激光点尺寸: D = 1 μm (at 100X ) 半导体激光o/p=1 mW , Max A:635m (Class 2)
2. AF 重复性: σ = 0.03 μm
b 测量对象
1 2D/3D表面形貌
2. 平整度
3. 3D/轮廓
4. 翘曲度
c 扫描范围
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